差分干涉相位比較法的工作原理

差分干涉相位比較法的工作原理

微分干涉金相顯微鏡常用于分析材料，它具有明顯的層次和凸起，能夠對顆粒、裂紋、孔洞和突起作出正確的判斷，能夠更好地區分一些普通顯微鏡難以確定的結構細節和缺陷。體視顯微鏡指從不同角度觀察物體,使雙眼引起立體感覺的雙目顯微鏡。金相顯微鏡電腦型金相顯微鏡或是數碼金相顯微鏡是將光學顯微鏡技術、光電轉換技術、計算機圖像處理技術**地結合在一起而開發研制成的高科技產品，可以在計算機上很方便地觀察金相圖像，從而對金相圖譜進行分析，評級等以及對圖片進行輸出、打印。工業視頻顯微鏡將傳統的顯微鏡與攝像系統,顯示器或者電腦相結合,達到對被測物體的放大觀察的目的。本文簡要介紹了差分干涉顯微鏡相襯法的基本原理:

差分干涉相位對比法所需組件：偏振器、分析器、差分干涉相位對比組件插入板（DIK組件插入板）、補色板（λ 板）。 偏振器和偏振器是用正交偏振光觀察金相樣品的關鍵部件,它們被組裝在明/金相照明模塊中,也是微分干涉相位對比法中的關鍵部件。 偏振器將光源變為東西方向振蕩的線性偏振光，分析器可以干涉滿足干涉條件的相干光。

DIK組件插板是微分干涉相襯法的核心功能部件，其上裝配有以渥拉斯頓棱鏡為基礎技術改良后的DIC棱鏡。DIK組件插板上有以下兩個市場調節旋鈕，其中存在較大的一個可以用來作為調節系統組成DIC棱鏡的兩個棱鏡間的相對重要位置，使其厚度以及產生一些微小的改變自己從而能夠引起光程或光程差的微小企業變化，產生影響明顯的干涉相襯效果；較小的一個主要用來調節DIC棱鏡的高低位置，以配合使用不同倍數物鏡后焦平面設計位置上的差異，從而才能確保DIC觀察視場中能獲得更加均勻的照明。

色彩補償裝置(-板)由石膏制成，并插入線偏振光的照明路徑中，以增加波長約為550nm的光波的光程差，從而將干涉階次提高一步。 確保樣品在視野中的不同組織細節獲得豐富的顏色，從而便于觀察和分析金相結構。

2.本文介紹了差分干涉相位對比法的基本原理: 圖中給出了差分干涉相位對比法的基本原理。光源發出的照明光經偏振后轉變為沿東西方向振動的線偏振光。當它**次進入 DIC 棱鏡時，它分為普通光(o 光)和異常光(e 光) ，其振動方向相互垂直。

鋼的鑄態組織表面有明顯的凹凸感，晶界和沿晶界分布的碳化物非常明顯，當 o-light 和 e-light 通過棱鏡時，兩者具有一定的光程差 t1，當這兩束光通過物鏡照射到樣品上時，可能照射到不同的表面狀態。換句話說，當這兩束光的波面接觸到樣品的不均勻表面、裂紋、微孔、凹陷、晶界等時，它們的反射會有所不同，此外，由于不同相位的光的折射率不同而引起的光波的相位變化，會產生新的附加光程差。當兩束光從樣品表面反射時，它們通過物鏡再次進入 DIC 棱鏡，波前產生一個新的光程差 T2并合并。但是這兩束光仍然是線偏振光，彼此垂直，不相互干涉。